电感耦合等离子体原子发射光谱法测定钼铁中杂质元素
摘要
钼铁中硅、铜、磷、镍、铝等杂质元素含量直接影响合金钢的品质与性能，传统湿法化学分析操作繁琐且难以实现多元素同时测定。文章采用电感耦合等离子体原子发射光谱（ICP-AES）法测定钼铁中多种杂质元素含量。试样经盐酸-硝酸-氢氟酸混合酸体系微波消解处理，对钼基体引起的光谱干扰与信号抑制效应进行了系统考察，采用基体匹配法消除基体影响，并优化确定了射频功率、雾化气流量及分析谱线等最佳仪器工作条件。试验结果表明，各杂质元素加标回收率稳定在96.2%～103.8%，测定结果相对标准偏差（n=3）维持在0.6%～2.8%，基体匹配后各元素测定值与认定值的相对偏差均小于3%。该方法分析快速、准确可靠，精密度与准确度良好，适用于钼铁产品中硅、铜、磷、镍、铝等多种杂质元素的日常质量检测与过程控制。关键词
电感耦合等离子体原子发射光谱法；钼铁；杂质元素；基体匹配；加标回收率引用本文
陈怡秀. 电感耦合等离子体原子发射光谱法测定钼铁中杂质元素[J]. 冶金与材料, 2026(11): 64-66.