TY  - JOUR
TI  - 电感耦合等离子体原子发射光谱法测定钼铁中杂质元素
AU  - 陈怡秀
JO  - 冶金与材料
PY  - 2026
IS  - 11
SP  - 64
EP  - 66
SN  - 2096-4854
AB  - 钼铁中硅、铜、磷、镍、铝等杂质元素含量直接影响合金钢的品质与性能，传统湿法化学分析操作繁琐且难以实现多元素同时测定。文章采用电感耦合等离子体原子发射光谱（ICP-AES）法测定钼铁中多种杂质元素含量。试样经盐酸-硝酸-氢氟酸混合酸体系微波消解处理，对钼基体引起的光谱干扰与信号抑制效应进行了系统考察，采用基体匹配法消除基体影响，并优化确定了射频功率、雾化气流量及分析谱线等最佳仪器工作条件。试验结果表明，各杂质元素加标回收率稳定在96.2%～103.8%，测定结果相对标准偏差（n=3）维持在0.6%～2.8%，基体匹配后各元素测定值与认定值的相对偏差均小于3%。该方法分析快速、准确可靠，精密度与准确度良好，适用于钼铁产品中硅、铜、磷、镍、铝等多种杂质元素的日常质量检测与过程控制。
KW  - 电感耦合等离子体原子发射光谱法
KW  - 钼铁
KW  - 杂质元素
KW  - 基体匹配
KW  - 加标回收率
UR  - https://yjycl.hljsm.org.cn/articles/2108474173304995842
ER  -